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PDA光電直讀光譜儀在鑄造爐前分析時控樣的制備
更新時間：2016-07-19 點(diǎn)擊次數(shù)：1900次
六十年代光電直讀光譜儀，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計(jì)算和控制讀出系統(tǒng)。由于計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計(jì)算機(jī)的小型化及微處理機(jī)的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計(jì)算機(jī)控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實(shí)現(xiàn)自動化控制。隨著20世紀(jì)80年代計(jì)算機(jī)技術(shù)和軟件技術(shù)的發(fā)展，直讀光譜儀發(fā)展迅速。下面就來介紹下光電直讀光譜儀的一種：PDA光電直讀光譜儀。
PDA光電直讀光譜儀的優(yōu)點(diǎn)是:分析速度快;準(zhǔn)確度高，相對誤差約為1%;適用于較寬的波長范圍;光電倍增管對信號放大能力強(qiáng)，對強(qiáng)弱不同譜線可用不同的放大倍率，相差可達(dá)10000倍，因此它可用同一分析條件對樣品中多種含量 范圍差別很大的元素同時進(jìn)行分析;線性范圍寬，可做高含量分析。缺點(diǎn)為:出射狹縫固定，能分析的元素也固定，也不能利用不同波長的譜線進(jìn)行分析;受環(huán)境影響較大，如溫度變化時譜線易漂移，現(xiàn)多采用實(shí)驗(yàn)室恒溫或儀器的光學(xué)系統(tǒng)局部恒溫及其他措施。
PDA光電直讀光譜儀在鑄造爐前分析時控樣的制備：
PDA光電直讀光譜儀用鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)樣品由于白口化制造的困難，供應(yīng)品種非常有限且價格高，為適應(yīng)生產(chǎn)要求，可采用自制的控制標(biāo)樣的辦法，根據(jù)鐵液成分控制要求，以工頻爐熔煉鐵液中分別加人一定量稀土元素鎂、銅、錫，同時澆鑄制出幾份白口試樣和灰口試樣，對白口試樣做光譜均勻性檢查，合格后對同一份灰口試樣用化學(xué)方法(選用兩個實(shí)驗(yàn)室測定結(jié)果)分析標(biāo)定，作為白口試樣的參照，彌補(bǔ)了標(biāo)準(zhǔn)樣品含量不足的缺陷。
爐前分析儀器試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)，由于試樣的組織結(jié)構(gòu)隨冷卻條件的不同而發(fā)生變化，在進(jìn)行光譜均勻性檢查中，樣品磨去4^-5mm后發(fā)現(xiàn)碳的發(fā)射強(qiáng)度隨著樣品深度增加有漸增的趨勢，這同樣品的白口化程度減弱相關(guān)，但其它合金元素的發(fā)射強(qiáng)度基本上均勻一致，實(shí)際工作中可采用在控樣磨耗一定厚度后替補(bǔ)更換控樣的辦法來解決控制標(biāo)樣的問題。
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